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LUNA OBR4600背光反射计技术特征


光纤在线编辑部  2019-03-01 16:29:26 综合整理 浏览次数:
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3/1/2019,
一、产品介绍
LUNA公司的OBR4600是光纤背光反射计系列产品之一。用于光器件/模块和短距离光网络的测试和故障排除。OBR4600超高空间分辨率是基于瑞利背向散射的高探测灵敏度,空间分辨率达到10微米,零死区,能够集成温度和应变测试,最大测试距离达2km。OBR4600提供卓越的测试结果和故障排除功能,在短时间内快速获取所需参数。




   目前市场上对于损耗的测试,主要有OTDR技术和基于OFDR技术的OBR背光反射计。OTDR技术的主要特点是测试距离长,从几十米到几十公里,常用于光缆或者光网络的施工测试,普通OTDR测试设备的空间分辨率在米级。空间分辨率如果在0.1m~0.01m范围内,则需要使用价格昂贵的高分辨率OTDR测试设备。在目前的成熟产品中,只有OBR背光反射计能够在2公里范围内实现毫米级空间分辨率,最高可以达到um级空间分辨率。从技术角度上分析,只有OFDR技术才能够实现高空间分辨率的分布式损耗测试。

二、区别于其他设备的优势
1、分布式损耗测试

OBR4600背光反射计能够测试整个光路上的损耗和缺陷分布情况,而且使用单端即可进行连接测试。常规损耗测试是对比输入端和终端输出两者的差异,只能获取总损耗值大小,而不能?#33539;?#20986;现损耗的位置,不利于分析和追踪。而OBR4600的插损测试动态范围达到18dB,分辨率0.05dB,回损测试动态范围是70dB,分辨率0.05dB。其分布式损耗测试技术独具特色。

2、高空间分辨率

OBR4600背光反射计空间分辨?#39318;?#39640;能够达到10um,这是任何一台设备都不具备的测试能力。其最典型应用是在快速接插件中检测端子质量,如上图所示,接插件出现故障以裂纹为主,mm级以上的断?#28079;?#22815;被明显测试到,而mm级裂纹的损耗往往决定了信号通过的质量。在光器件中,如WDM、PLC和spliter;除此之外,进行损耗区域放大之后,可以根据损耗特性分布情况,推断故障发生的类型。
而在硅光研究领域,OBR4600更是进行测试必不可少的设备,其测试?#38405;?#24471;到了Blumenthal and Bowers Optoelectronics Research Groups的认可,并在硅光器件上进行了测试应用,国内上海中科院在对硅光的研究中,也认可该设备的高空间分辨?#24066;阅堋?


3、兼容多模器件测试

除了对单模光纤进行测试之外,OBR4600?#37096;?#20197;用于多模光纤的?#38405;?#27979;试,对于通讯测试具有重要意义。

4、可用于产线自动化测试

背光反射计软件人机交互界面简单,测试结果存储方便,而在生产线测试应用中,可自动设置测试位置和阈?#23548;?#27979;标准,极大提高工作效率,避免人工操作带来的误差。

三、技术特征
背光反射计主要具有以下的技术特征;
1. 定位并诊断光纤的弯曲、熔接、连接和断裂等各类故障;
2. 定位短距离光网络中所有存在插入损耗的位置;
3. 检查器件内?#31185;?#20272;每一个连接处的RL和IL;
4. 在7s之内,能够以10微米的分辨率测量30m的光纤;
5. 最高以3Hz的连续频率测量1m的光路;
6. 测试和排除短距离光网络故障(<2km);
7. 光纤组件的自动检验;
8. 监测光网络或光模块内部温度或应变的分布情况。

背光反射计的主要?#38405;?#20248;势如下所示:
1. -130dB的灵敏度;
2. 70dB的动态范围;
3. 2km测量范围内零死区;
4. 小于0.05dB的插损分辨率。


了解产品详情,请与以?#36335;?#24335;联系:
武汉光谷长盈通计量有限公司 
李先生 13986177557
编辑:Apple        

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